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光磁克尔效应磁滞回线测量仪

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产品描述
从当下主流的机械硬盘,到未来的磁性存储单元,磁滞回线测量都是评估薄膜性质的重要手段。相较于电学霍尔测量和震动磁强计,光磁克尔效应具有测量速度快,精度高,非侵入,且不需要对样品进行加工或切片等操作的特点。
通过对磁滞回线的分析,用户不但可以得到矫顽力及相对磁化强度等信息,亦可了解磁性薄膜磁各向异性等性质。针对不同矫顽力的多层磁性薄膜结构,磁光克尔测量可以分析出逐层的磁滞回线信息。
托托光电科技提供的标准系统按照性能优先,稳定性优先的设计思路,可以满足实验室研究及工业生产<A>中各种磁性薄膜材料的测试需求。针对不同磁各向异性材料的光学响应,我们提供两种测试组件:PMA Checker 以及IMA Looper,两种系统共享一套数据采集系统,切换方便。“控制盒+光磁主体+电脑”的套装(如上图所示)即是完整的设备,无需任何外置仪表(电源,锁相放大器)客户即可快速完成磁滞回线的测量;此外,客户可以自主选择使用锁相放大器(SR830/810,Zurich MFLI)进行数据采集,该设备预留了与锁相放大器匹配的接口。
该产品提供基于LabView的程序,方便客户快速上手。基于C,Python的控制程序也可应客户要求提供。
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暂未实现,敬请期待
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